Phenom ParticleX: Desktop SEM/EDS voor geautomatiseerde high-throughput analyse

De Phenom ParticleX van Thermo Scientific is een krachtige oplossing die scanning elektronen microscopie (SEM) en energie-dispersieve röntgenspectroscopie (EDS) samenbrengt in een volledig geautomatiseerd desktopplatform voor high-throughput analyse. Door geavanceerde beeldvorming te combineren met geautomatiseerde chemische analyse maakt ParticleX snellere, consistentere en beter toegankelijke materiaalanalyse mogelijk dan ooit tevoren.

Door de integratie van de Phenom XL desktop SEM met de ParticleX-software biedt dit compacte systeem automatische deeltjesdetectie, morfologische analyse, chemische analyse en classificatie—waardoor taken worden gestroomlijnd die anders veel tijd en expertise zouden vereisen.

ParticleX gebruikersinterface

ParticleX TC Report example according to ISO 16232 standards (1)

ParticleX TC Rapport voorbeeld volgens ISO 16232 standaarden

Gebruikersinterface ParticleX software

Ternaire batterijen

Automatisering: de nieuwe standaard in materiaalanalyse

De Phenom ParticleX is het antwoord van Thermo Fisher Scientific op de toenemende vraag van fabrikanten en laboratoria naar efficiënte, automatiseerbare SEM-oplossingen. In diverse sectoren is een duidelijke verschuiving zichtbaar: van het uitbesteden van analysetaken naar het interne beheer van materiaalanalyse. Deze trend wordt gevoed door de behoefte aan snellere besluitvorming, striktere kwaliteitscontrole en lagere operationele kosten.

Automatisering speelt hierin een sleutelrol. Met ParticleX kunnen taken die traditioneel uren of dagen in beslag nemen, nu in een fractie van de tijd worden uitgevoerd, met minimale tussenkomst van de gebruiker. Hierdoor kunnen zelfs niet-gespecialiseerde operatoren betrouwbare gegevens genereren en behoud men volledige controle over de analytische workflows.

Belangrijkste voordelen van geautomatiseerde SEM/EDS met ParticleX

Snelle, betrouwbare resultaten – binnen één dag

Waar externe SEM-analyses vaak tot 10 werkdagen duren, levert Phenom ParticleX nauwkeurige resultaten binnen 24 uur—een enorme versnelling voor R&D, productiecontrole of foutenanalyse.

High throughput zonder extra personeel

Het systeem kan automatisch meerdere monsters na elkaar analyseren, wat de doorvoer tot wel 10 keer verhoogt ten opzichte van manuele bediening. Hierdoor worden grotere volumes verwerkt zonder personeelsuitbreiding.

Consistente, reproduceerbare analyse

Geautomatiseerde workflows minimaliseren variaties tussen operatoren. Gestandaardiseerde scaninstellingen, consistente deeltjesherkenning en op duidelijke criteria gebaseerde classificatie zorgen voor herhaalbare en kwalitatieve resultaten.

Geïntegreerde chemische classificatie

Dankzij de volledig geïntegreerde EDS wordt niet alleen het deeltje gedetecteerd, maar ook de chemische samenstelling automatisch bepaald en getoetst aan interne of industriële normen.

Lage trainingsvereisten

De gebruiksvriendelijke interface en interactieve workflows maken het systeem geschikt voor gebruikers met weinig tot geen SEM-ervaring.

Verbeterde kwaliteitscontrole

Door SEM/EDS in eigen huis te halen, krijgen bedrijven directe controle over kwaliteitsbewaking en probleemoplossing. Snelle feedback tijdens productie of materiaalonderzoek maakt tijdige aanpassingen mogelijk en voorkomt kostbare fouten.

Schaalbaar voor sectorspecifieke toepassingen

Thermo Scientific biedt meerdere ParticleX-configuraties die zijn afgestemd op specifieke industriële toepassingen. Of het nu gaat om:

Elke uitvoering is geoptimaliseerd voor de materiaaltypes en analyse-eisen binnen de specifieke applicatie of industriesector. Dit maakt het mogelijk om SEM/EDS snel te implementeren waar het het hardst nodig is—zonder de complexiteit of kosten van traditionele laboratoriumsystemen.

Conclusie

De Phenom ParticleX herdefinieert wat mogelijk is met desktop-elektronenmicroscopie. Door kritieke onderdelen van deeltjesanalyse en chemische identificatie te automatiseren, stelt het systeem organisaties in staat sneller, efficiënter en met meer controle te werken.

Of het nu gaat om kwaliteitscontrole, foutenanalyse of routinematige materiaalkarakterisering—ParticleX levert hoogwaardige analytische prestaties in een toegankelijk, betaalbaar en industrieklaar formaat.

Ontdek hier de verschillende Phenom ParticleX-configuraties voor geautomatiseerde SEM-analyse