ParticleX TC: Desktop SEM voor analyse van component reinheid

De Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM is een veelzijdige desktop SEM die technische zuiverheid op microschaal mogelijk maakt.

Een veelzijdige oplossing voor hoge kwaliteit, in-house analyse, de Phenom ParticleX Desktop SEM geeft u de mogelijkheid om snelle karakterisatie, verificatie en classificatie van materialen uit te voeren, uw productie ondersteunend met snelle, accurate en betrouwbare data. Het systeem is eenvoudig te bedienen en snel te leren, waardoor deeltjes- en materiaalanalyse toegankelijk wordt voor een bredere groep gebruikers.

Technische reinheid
Met de groeiende vraag naar analyse van kleinere deeltjes buiten het bereik van lichtmicroscopie binnen (auto)industrieën, maakt de Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM geautomatiseerde scanning elektronenmicroscopie met energie-dispersieve röntgenspectroscopie (EDS) mogelijk. Dit is een groot voordeel ten opzichte van lichtmicroscopie omdat het chemische classificatie van de deeltjes mogelijk maakt, wat veel inzicht geeft in uw productieprocessen en/of omgevingen. Standaardrapporten die voldoen aan VDA 19 / ISO 16232 of ISO 4406/4407 zijn beschikbaar.

Secundaire elektronendetector
Een secundaire elektron detector (SED) is optioneel beschikbaar op de Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM. De SED verzamelt laag-energetische elektronen van de bovenste oppervlaktelaag van het monster. Het is daarom de perfecte keuze om gedetailleerde informatie over het monsteroppervlak te onthullen. De SED kan zeer nuttig zijn voor toepassingen waarbij topografie en morfologie belangrijk zijn. Dit is vaak het geval bij het bestuderen van microstructuren, vezels of deeltjes.

Algemeen SEM-gebruik
De gebruikersinterface is gebaseerd op de bewezen gebruiksvriendelijke technologie die is toegepast in de succesvolle Phenom desktop SEM-producten. De interface stelt zowel bestaande als nieuwe gebruikers in staat om snel vertrouwd te raken met het systeem met een minimum aan training.

Elemental mapping en lijnscan
Voor een gebruiker is het eenvoudig klikken en aan de slag gaan met de elemental mapping en line scan functionaliteit van de Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM. De lijnscanfunctionaliteit toont de gekwantificeerde elementverdeling in een lijnplot.

Vraag hier uw productdemo aan

Wilt u meer weten over de Phenom SEM, of hem zelf in actie zien? We regelen graag een persoonlijke demonstratie. Of neem contact met ons op om de oplossingen te bespreken die de desktop SEM kan bieden voor uw laboratorium.