Welkom bij electron-microscopes.com, een informatieplatform over rasterelektronenmicroscopie (SEM), ondersteund door een aantal Europese distributeurs van de Thermo Scientific Phenom rasterelektronenmicroscopen. SEM staat vooral bekend als een krachtige beeldvormingstechniek, maar kan ook worden gebruikt voor andere toepassingen zoals meten en analyseren.
Promotie
Ontvang ChemiSEM & ChemiPhase GRATIS!
Koop een Thermo Scientific Phenom desktop SEM met EDS-systeem en ontvang de geavanceerde ChemiSEM en ChemiPhase software-oplossingen helemaal gratis. Dit aanbod is geldig tot 30 september 2024.
Materials
Ontdek wat SEM te bieden heeft voor de karakterisatie van uw matrerialen
Imaging with SEM
SEM, of course, remains the technique of choice for imaging at high magnifications. Today, through a specific combination of electron-optical components (such as a FEG field-emitting electron source), even desktop SEM models such as the Thermo Scientific Phenom Pharos achieve resolution better than 2 nm, which means magnifications above 1.000.000x.
Even at relatively low magnifications in the area where optical microscopy is usually used, SEM can offer a number of advantages. These include greater depth of field or higher contrast, for example by using a backscatter detector that generates signals based on differences in chemical composition of the material.
Find out more
Measuring with SEM
SEM is increasingly used as a tool for determining dimensions. This can range from determining particle size or particle shape distributions and the size of pores and fiber diameters in materials to measuring roughness parameters and dimensions of microstructures.
Click here to learn more about the different Phenom SEM software solutions for measuring
Find out more
Analyzing with SEM
Energy dispersive X-ray analysis (EDX or EDS) is a commonly used technique for today’s materials researchers. Combined with a SEM, an EDX detector can provide more information about a sample than a SEM alone. Single-point analysis can be used to determine specific contaminations in one position, while line-scan or surface-scan analyses can provide new insights into the composition of cross sections or the homogeneity and concentration of chemical elements in (micro) surfaces.
Click here to learn more about the different microscope models available for chemical analysis using EDX.
Find out more
About us
Electron-microscopes.com is een informatieplatform over scanning elektronen microscopie (SEM), ondersteund door een aantal lokale Europese distributeurs van de Thermo Scientific Phenom elektronen microscoop productlijnen. Deze website is bedoeld als een introductie in de populaire desktop elektronen microscopie technologie die zich de laatste decennia razendsnel heeft ontwikkeld en vandaag in duizenden labs wereldwijd wordt gebruikt.
Find out more
