ParticleMetric automatiseert deeltjesdetectie, analyse en rapportage. Rapporten geven statistisch significante morfologie en deeltjesgrootte data voor vele submicron deeltjes toepassingen. De software geeft gebruikers toegang tot het creëren van histogrammen en scatter plots gebaseerd op de verzamelde data.
ParticleMetric biedt een niveau van visuele exploratie voorbij optische microscopie die kwaliteitscontrole kan verbeteren en procesontwikkeling kan versnellen.
✓ Correleer deeltjeskenmerken zoals diameter, rondheid, hoogte-breedteverhouding en convexiteit
✓ Detecteer tot 1000 deeltjes per minuut
✓ Combineer met Automated Image Mapping voor statistische gegevensanalyse met SEM-beelden van hoge kwaliteit
✓ Verzamelde deeltjes opnieuw bekijken
✓ Visualiseer grote datasets in histogrammen of scatter plots van een bepaalde parameter
✓ Grafieken uitzetten in lineaire, log- of dubbele logschaal – op aantal of volume
✓ Rapportagetool maakt eenvoudig exporteren van gegevens mogelijk
Vraag hier uw productdemo aan
Wilt u meer weten over de Phenom SEM, of hem zelf in actie zien? We regelen graag een persoonlijke demonstratie. Of neem contact met ons op om de oplossingen te bespreken die de desktop SEM kan bieden voor uw laboratorium.