Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS oder EDX) liefert Informationen über die Elementzusammensetzung, indem sie die Röntgenstrahlen analysiert, die von einer Probe freigesetzt werden, wenn sie von einem Elektronenstrahl getroffen wird. Dies ist eine schnelle, genaue und zerstörungsfreie Methode zur Identifizierung von Verbindungen im Mikrometerbereich.
Die fortschrittliche Technologie unserer CeB6– und FEG-Quellen ermöglicht hohe Röntgenzählraten, wodurch die Zeit bis zum Vorliegen von Ergebnissen im Vergleich zu herkömmlichen wolframbasierten Systemen erheblich verkürzt wird. Der voll integrierte Silizium-Driftdetektor (SDD) mit einem ultradünnen Fenster ermöglicht die Detektion der Elemente B bis Cf.
Selbst über große Flächen können verwertbare Daten in weniger als 60 Sekunden erfasst werden.
Vollständig integrierte Software und Hardware
Die Software und Hardware für die Elementaranalyse sind vollständig in die Phenom-Mikroskope integriert. Die Benutzeroberfläche ermöglicht einen nahtlosen Wechsel zwischen Bildaufnahme und EDS-Erfassung.
Der hochgradig abgestimmte Algorithmus zur Peak-Identifizierung gewährleistet präzise Elementinformationen für jeden Benutzer, unabhängig vom Erfahrungsstand.
Die Detektoreinstellungen werden automatisch für die verwendeten Strahlungsbedingungen optimiert, so dass jedes Mal die besten Ergebnisse erzielt werden.
On-demand Webinar
Live Webinar: Phenom REM Technologieinitiative
Im Rahmen dieses kompakten Webinars präsentieren wir Ihnen die drei neuen Produkte live an einem Phenom Elektronenmikroskop: MAPS für Phenom, ChemiSEM und ChemiPhase.
Schnelle Ergebnisse
Hohe Röntgenzählraten liefern schnell Ergebnisse, auch über große Flächen
Ein-Klick-Analyse
Ein vollständig integrierter Arbeitsablauf stellt sicher, dass die Datenerfassung und -interpretation schnell und genau erfolgt
Elementaranalysesoftware
Unabhängig von der Erfahrung des Anwenders liefert die Elementaranalysesoftware des Phenom mit ihrer benutzerfreundlichen integrierten Schnittstelle qualitativ hochwertige Ergebnisse.
Analysieren Sie schnell Fremdmaterialien in Proben, Einschlüsse, mehrschichtige Beschichtungen, mehrphasige Grenzflächen und vieles mehr.
Vier leistungsstarke Analysemodi
✓ Spot – schnelle Identifizierung der Elementzusammensetzung in einem bestimmten Spot
✓ Region – Bestimmung der durchschnittlichen Elementzusammensetzung eines größeren Bereichs
✓ Line – Aufzeichnung von Änderungen der Elementhäufigkeiten entlang einer Linie
✓ Karte – Visualisierung aller in einer Probe vorhandenen Elemente
