REM-Lösungen für die Bildgebung

Eine der großen Revolutionen in der Elektronenmikroskopie war die Miniaturisierung der Rasterelektronenmikroskope von großen Standgeräten zu kompakten Tischgeräten.

Desktop-REMs, auch Tisch- oder Benchtop-REMs genannt, behalten einen Großteil der Leistung und der Möglichkeiten von Standsystemen bei, bieten aber auch eine eigene Vielseitigkeit, passen leichter in Laborräume und bieten eine Reihe spezialisierter Software-Analysetools.

Bei diesen Systemen steht die Benutzerfreundlichkeit im Vordergrund, und sie sind ideal für die interne Analyse in Labors mit mehreren Benutzern, in denen nicht jeder ein REM-Spezialist sein muss.

Hochauflösende Bildgebung

helle, langlebige CeB6– oder FEG-Elektronenquellen für gleichbleibende Leistung und Stabilität

Schnelles Erfassen von Daten

hochempfindliche und schnelle Detektoren gepaart mit dem schnellsten Entlüftungs-/Ladezyklus sorgen für eine durchschnittliche Zeit bis zur ersten Aufnahme von weniger als 40 Sekunden

Intuitive Bedienung

Bildgebungsparameter und Mikroskopfunktionen werden über eine übersichtliche und leicht zu bedienende Benutzeroberfläche gesteuert

Niedrige Betriebskosten

robuste Hardware ermöglicht geringe Ausfallzeiten und seltene Quellenwechsel, wodurch die gesamten Wartungskosten minimiert werden

Webinar mit Live-Demo

Entdecken Sie die Möglichkeiten und Grenzen von Tisch-REMs

In diesem interaktiven Webinar  mit verschiedenen live Produktdemonstrationen werden folgende Themen beleuchtet:

  • Probenpräparation (Sputtern, Ionenätzen)
  • Automatisierung (Partikel- und Einschlussanalytik, Scripting)
  • in-situ Anwendungen (Temperatur, Dehnung-/Stauchung, Mikromanipulation)

Produkte

Standmodellen REM

Für die Bildgebung großer Proben bis zu 10 kg und 130 mm Durchmesser bieten wir das Axia ChemiSEM an. Dieses Standmodell des REM verfügt über eine integrierte Benutzerführung, Echtzeit-Bildgebung der Zusammensetzung und einen ausrichtungsfreien Betrieb, so dass Sie während der Datenerfassung konzentriert bleiben können.

Die hervorragende elektronenoptische Auflösung ermöglicht die Charakterisierung von Einschlüssen im Submikrometerbereich.