Willkommen bei electron-microscopes.com, einer Informationsplattform über die Rasterelektronenmikroskopie (REM), die von einer Reihe europäischer Vertriebshändler der Thermo Scientific Phenom-Rasterelektronenmikroskope unterstützt wird. Das REM ist vor allem als leistungsstarke Bildgebungsmethode bekannt, kann aber auch für andere Anwendungen wie Messungen und Analysen eingesetzt werden.
Promotion
Holen Sie sich MAPS, ChemiSEM & ChemiPhase kostenlos!
Kaufen Sie ein Thermo Scientific Phenom Desktop SEM mit EDS-System und erhalten Sie die fortschrittlichen Softwarelösungen MAPS, ChemiSEM und ChemiPhase kostenlos. Dieses Angebot ist bis zum 30. September 2024 gültig.
Materials
Finden Sie heraus, was REM für die Charakterisierung Ihrer Materialien zu bieten hat
Imaging with SEM
SEM, of course, remains the technique of choice for imaging at high magnifications. Today, through a specific combination of electron-optical components (such as a FEG field-emitting electron source), even desktop SEM models such as the Thermo Scientific Phenom Pharos achieve resolution better than 2 nm, which means magnifications above 1.000.000x.
Even at relatively low magnifications in the area where optical microscopy is usually used, SEM can offer a number of advantages. These include greater depth of field or higher contrast, for example by using a backscatter detector that generates signals based on differences in chemical composition of the material.
Find out more
Measuring with SEM
SEM is increasingly used as a tool for determining dimensions. This can range from determining particle size or particle shape distributions and the size of pores and fiber diameters in materials to measuring roughness parameters and dimensions of microstructures.
Click here to learn more about the different Phenom SEM software solutions for measuring
Find out more
Analyzing with SEM
Energy dispersive X-ray analysis (EDX or EDS) is a commonly used technique for today’s materials researchers. Combined with a SEM, an EDX detector can provide more information about a sample than a SEM alone. Single-point analysis can be used to determine specific contaminations in one position, while line-scan or surface-scan analyses can provide new insights into the composition of cross sections or the homogeneity and concentration of chemical elements in (micro) surfaces.
Click here to learn more about the different microscope models available for chemical analysis using EDX.
Find out more
About us
Electron-microscopes.com ist eine Informationsplattform über die Rasterelektronenmikroskopie (REM), die von einer Reihe lokaler europäischer Vertriebspartner der Thermo Scientific Phenom Elektronenmikroskop-Produktlinien unterstützt wird. Die Website ist als Einführung in die beliebte Desktop-Elektronenmikroskopie-Technologie gedacht, die sich in den letzten Jahrzehnten rasant entwickelt hat und heute in Tausenden von Labors weltweit eingesetzt wird.
Find out more
