Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Mehrzweck-Desktop-SEM, das für die additive Fertigung entwickelt wurde und Reinheit auf der Mikroskala liefert.
Es ist mit einer Kammer ausgestattet, die groß genug ist, um Proben von bis zu 100 mm x 100 mm zu analysieren. Der firmeneigene Entlüftungs- und Beladungsmechanismus sorgt für den weltweit schnellsten Entlüftungs-/Beladungszyklus und damit für den höchsten Durchsatz.
Mit dem Phenom ParticleX AM Desktop SEM können Sie die Kontrolle über Ihre Daten selbst übernehmen:
✓ Überwachung der kritische Eigenschaften von Metallpulvern
✓ Verbesserung Ihrer pulverbett- und pulvergespeisten additiven Fertigungsprozesse
✓ Identifizierung der Partikelgrößenverteilungen, individuelle Partikelmorphologie und Fremdpartikel
Merkmale des Phenom ParticleX AM Desktop SEM
✓ REM-Partikelanalyse
Das Phenom ParticleX AM Desktop SEM verfügt über eine Kammer mit einem präzisen und schnellen motorisierten Tisch, der die Analyse von Proben mit einer Größe von bis zu 100 mm x 100 mm ermöglicht. Selbst bei dieser größeren Probengröße hält das firmeneigene Beladungs-Shuttle den Belüftungs-/Beladungszyklus bei einer branchenweit führenden Beladungszeit von 60 Sekunden oder weniger, was letztendlich zu einem schnelleren Durchsatz als bei anderen REM-Systemen führt.
✓ Prüfung der additiven Fertigung
Das Phenom ParticleX AM Desktop SEM misst verschiedene Größen- und Formparameter, wie z. B. minimaler und maximaler Durchmesser, Umfang, Seitenverhältnis, Rauheit und Feret-Durchmesser. Alle diese Parameter können mit 10%-, 50%- oder 90%-Werten angezeigt werden (d.h. d10, d50, d90).
✓ REM-Elementkartierung
Die Funktionen für die Elementzuordnung und den Zeilenscan ermöglichen es Ihnen, mit einem einzigen Klick mit der Arbeit zu beginnen. Die Linienscan-Funktionalität zeigt die quantifizierte Elementverteilung in einem Liniendiagramm an. Dies ist besonders nützlich für die Analyse von Kanten, Schichten und Querschnitten von Beschichtungen, Lacken und anderen Proben mit mehreren Schichten.
✓ Sekundärelektronendetektor
Ein optionaler Sekundärelektronendetektor (SED) kann dem Phenom ParticleX AM Desktop SEM hinzugefügt werden. Der SED sammelt niederenergetische Elektronen von der obersten Oberflächenschicht der Probe und ist damit ideal geeignet, um detaillierte Informationen über die Probenoberfläche zu erhalten. Die SED kann bei der Untersuchung von Mikrostrukturen, Fasern und Partikeln oder anderen Anwendungen, bei denen Topografie und Morphologie wichtig sind, von großem Nutzen sein.
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Möchten Sie mehr über das Phenom REM erfahren oder es selbst in Aktion sehen? Gerne arrangieren wir für Sie eine persönliche Vorführung. Oder nehmen Sie Kontakt mit uns auf, um die Lösungen zu besprechen, die das Desktop REM für Ihr Labor bieten kann.