Porte-échantillon à réduction de charges

Ce porte-échantillon est conçu pour réduire les effets de charge de l’échantillon et éliminer la préparation supplémentaire des échantillons non conducteurs. L’imagerie d’échantillons tels que le papier, les polymères, les matériaux organiques, la céramique, le verre et les revêtements devient rapide et sans problème.

Caractéristiques techniques

Un grossissement jusqu’à 8 fois plus élevé avant chargement est visible par rapport au porte-échantillon Phenom standard.
Le besoin de métallisé l’échantillon est considérablement réduit, ce qui ne nécessite aucun équipement supplémentaire et accélère la préparation des échantillons.
Les échantillons non conducteurs peuvent être imagés dans leur état brut, ce qui permet d’obtenir des informations précieuses sur le contraste des matériaux par rétrodiffusion.

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