Le MEB de table Phenom ParticleX AM est un microscope électronique à balayage polyvalent conçu pour le contrôle de la fabrication d’additifs.
Il est équipé d’une chambre suffisamment grande pour analyser des échantillons allant jusqu’à 100 mm x 100 mm ou bien jusqu’à 36 échantillons de votre production d’additifs sans la mobilisation d’un opérateur. Le mécanisme novateur de chargement/ejection des échantillons confère au MEB de table Phenom le système de chargement des échantillons le plus rapide du marché. Grâce à cette caractéristique, l’analyse des échantillons peut se faire en très haut débit.
Avec le MEB de table Phenom ParticleX AM, vous pouvez contrôler vos données en interne :
✓ Surveiller les caractéristiques critiques des poudres métalliques
✓ Améliorer vos procédés de fabrication d’additifs
✓ Identifier les distributions de tailles de particules, la morphologie des particules individuelles et les particules étrangères
Caractéristiques du Phenom ParticleX AM Desktop SEM
✓ Analyse des particules
Le MEB de table Phenom ParticleX AM est doté d’une chambre avec une platine motorisée qui permet d’analyser des échantillons allant jusqu’à 100 mm x 100 mm. Bien que cette taille d’échantillon soit importante, le mécanisme de chargement en mode MEB se fait en moins de 45 secondes.
✓ Contrôle d’une production d’additifs
Le MEB de table Phenom ParticleX AM mesure divers paramètres de taille et de forme, tels que les diamètres minimum et maximum, le périmètre, le rapport d’aspect, la rugosité et le diamètre du feret. Tous ces paramètres peuvent être affichés avec des valeurs de 10 %, 50 % ou 90 % (c’est-à-dire d10, d50, d90).
✓ Cartographie élémentaire
La fonctionnalité de cartographie élémentaire et de profil EDS vous permet de commencer à travailler en un seul clic. La fonctionnalité de profil EDS montre la distribution des éléments quantifiés le long d’un profil choisi par l’opérateur. Cette fonction est particulièrement utile pour analyser les bords, les revêtements et les sections transversales de revêtements, de peintures et d’autres échantillons à couches multiples.
✓ Détecteur d’électrons secondaires
Un détecteur d’électrons secondaires (SED) optionnel peut être ajouté au MEB de table Phenom ParticleX AM. Le SED collecte des électrons de faible énergie provenant de la couche superficielle de l’échantillon, ce qui le rend idéal pour révéler des informations détaillées sur la surface de l’échantillon. Le SED peut être très utile pour étudier les microstructures, les fibres et les particules ou d’autres applications où la topographie et la morphologie sont importantes.
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Vous souhaitez en savoir plus sur le MEB de table Phenom ou le voir en action ? Nous nous ferons un plaisir d’organiser une démonstration adaptée à votre application et vos échantillons. Contactez-nous pour discuter des solutions que notre gamme de MEB de table peut apporter à votre laboratoire.