Bienvenue sur electron-microscopes.com, une plateforme d’information sur la microscopie électronique à balayage (MEB), soutenue par un certain nombre de distributeurs européens des microscopes électroniques à balayage Thermo Scientific Phenom. Mieux connue comme une technique d’imagerie puissante, la MEB peut également être utilisée pour d’autres applications telles que la mesure et l’analyse.
Offre spéciale
Présentation de l'offre promotionnelle autour du Phenom ProX
Pour une durée limitée, nous proposons le MEB de table Thermo Scientific Phenom ProX , incluant SED, EDS et ChemiSEM, ainsi qu’une licence de logiciel de votre choix. Vous pouvez choisir parmi les outils analytiques avancés suivants :3D Roughness Reconstruction, ParticleMetric, PoroMetric, FiberMetric.
Imagerie avec SEM
Le MEB reste bien sûr la technique de choix pour l’imagerie à fort grossissement. Aujourd’hui, grâce à une combinaison spécifique de composants électroniques et optiques (tels qu’une source d’électrons à émission de champ FEG), même les modèles de MEB de bureau tels que le Thermo Scientific Phenom Pharos atteignent une résolution supérieure à 2 nm, ce qui signifie des grossissements supérieurs à 1.000.000x.
Même à des grossissements relativement faibles dans le domaine où la microscopie optique est habituellement utilisée, le MEB peut offrir un certain nombre d’avantages. Il s’agit notamment d’une plus grande profondeur de champ ou d’un contraste plus élevé, par exemple grâce à l’utilisation d’un détecteur à rétrodiffusion qui génère des signaux basés sur les différences de composition chimique du matériau.
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Mesurer avec SEM
Le MEB est de plus en plus utilisé comme outil de détermination des dimensions. Cela peut aller de la détermination de la taille ou de la distribution de la forme des particules et de la taille des pores et du diamètre des fibres dans les matériaux à la mesure des paramètres de rugosité et des dimensions des microstructures.
Cliquez ici pour en savoir plus sur les différentes solutions logicielles de Phenom SEM pour la mesure des émissions de gaz à effet de serre.
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Analyser avec SEM
L’analyse par dispersion d’énergie des rayons X (EDX ou EDS) est une technique couramment utilisée par les chercheurs en matériaux d’aujourd’hui. Combiné à un MEB, un détecteur EDX peut fournir plus d’informations sur un échantillon qu’un MEB seul. L’analyse d’un point unique peut être utilisée pour déterminer des contaminations spécifiques dans une position, tandis que les analyses par balayage linéaire ou par balayage de surface peuvent fournir de nouvelles informations sur la composition des sections transversales ou sur l’homogénéité et la concentration d’éléments chimiques dans les (micro) surfaces.
Cliquez ici pour en savoir plus sur les différents modèles de microscope disponibles pour l’analyse chimique par EDX.
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Materials
Découvrez ce que le MEB peut vous offrir pour la caractérisation de vos matériaux
À propos de nous
Le site electron-microscopes.com est une plateforme d’information sur la microscopie électronique à balayage (MEB), soutenue par un certain nombre de distributeurs européens locaux des gammes de produits de microscope électronique Phenom Thermo Scientific. Le site est conçu comme une introduction à la technologie des microscopes électroniques à balayage de table (MEB de table) qui ont été développés à une vitesse fulgurante au cours des dernières décennies, et qui est utilisée aujourd’hui dans des milliers de laboratoires à travers le monde.
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