Bienvenue sur electron-microscopes.com, une plateforme d’information sur la microscopie électronique à balayage (MEB), soutenue par un certain nombre de distributeurs européens des microscopes électroniques à balayage Thermo Scientific Phenom. Mieux connue comme une technique d’imagerie puissante, la MEB peut également être utilisée pour d’autres applications telles que la mesure et l’analyse.
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Materials
Découvrez ce que le MEB peut vous offrir pour la caractérisation de vos matériaux
Imagerie avec SEM
Le MEB reste bien sûr la technique de choix pour l’imagerie à fort grossissement. Aujourd’hui, grâce à une combinaison spécifique de composants électroniques et optiques (tels qu’une source d’électrons à émission de champ FEG), même les modèles de MEB de bureau tels que le Thermo Scientific Phenom Pharos atteignent une résolution supérieure à 2 nm, ce qui signifie des grossissements supérieurs à 1.000.000x.
Même à des grossissements relativement faibles dans le domaine où la microscopie optique est habituellement utilisée, le MEB peut offrir un certain nombre d’avantages. Il s’agit notamment d’une plus grande profondeur de champ ou d’un contraste plus élevé, par exemple grâce à l’utilisation d’un détecteur à rétrodiffusion qui génère des signaux basés sur les différences de composition chimique du matériau.
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Mesurer avec SEM
Le MEB est de plus en plus utilisé comme outil de détermination des dimensions. Cela peut aller de la détermination de la taille ou de la distribution de la forme des particules et de la taille des pores et du diamètre des fibres dans les matériaux à la mesure des paramètres de rugosité et des dimensions des microstructures.
Cliquez ici pour en savoir plus sur les différentes solutions logicielles de Phenom SEM pour la mesure des émissions de gaz à effet de serre.
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Analyser avec SEM
L’analyse par dispersion d’énergie des rayons X (EDX ou EDS) est une technique couramment utilisée par les chercheurs en matériaux d’aujourd’hui. Combiné à un MEB, un détecteur EDX peut fournir plus d’informations sur un échantillon qu’un MEB seul. L’analyse d’un point unique peut être utilisée pour déterminer des contaminations spécifiques dans une position, tandis que les analyses par balayage linéaire ou par balayage de surface peuvent fournir de nouvelles informations sur la composition des sections transversales ou sur l’homogénéité et la concentration d’éléments chimiques dans les (micro) surfaces.
Cliquez ici pour en savoir plus sur les différents modèles de microscope disponibles pour l’analyse chimique par EDX.
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About us
Electron-microscopes.com is an information platform on scanning electron microscopy (SEM), supported by a number of local European distributors of the Thermo Scientific Phenom electron microscope product lines. The site is intended as an introduction to the popular desktop electron microscopy technology that has been developed at lightning speed over the past decades and is used today in thousands of labs worldwide.
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