Le porte-échantillon STEM (pour l’imagerie en transmission), compatible avec le Phenom Pharos, change la donne pour les chercheurs dans de nombreux domaines, notamment les batteries, les métaux et alliages, les catalyseurs, les nanomatériaux et les échantillons biologiques tels que les tissus. Ce porte-échantillon est spécialement conçu pour les grilles MET standard de 3 mm et permet d’étudier ces échantillons en mode transmission, fournissant un contraste et des informations uniques. Le porte-échantillon Phenom STEM offre un concept d’analyse STEM entièrement automatisé et inégalé pour sur le marché des MEB de table, avec la possibilité de basculer entre trois modes d’imagerie différents en transmission. Cela permet d’obtenir plus de détails, un meilleur contraste et plus d’informations sur les couches minces, ce qui en fait un outil précieux pour ceux qui recherchent une compréhension plus approfondie sur une petite échelle de taille.
✓ Flux de travail de la microscopie électronique à transmission
Notre solution rationalise le flux de travail de la microscopie à transmission pour les utilisateurs qui ont besoin de réponses rapides plutôt que d’informations cellulaires ultrastructurelles détaillées. Avec notre porte-échantillon, l’imagerie par microscopie électronique à transmission à balayage peut être réalisée en moins de 3 minutes après le chargement de l’échantillon, ce qui permet d’économiser du temps et des efforts. Entièrement intégré à l’interface utilisateur, le porte-échantillon STEM de Phenom offre une expérience claire et intuitive aux utilisateurs des modes de fonctionnement SED ou BSD habituels. En quelques clics, vous pouvez facilement basculer entre les images en champ clair et en champ sombre, ce qui facilite l’accès aux informations dont vous avez besoin. Que vous travailliez dans un environnement industriel ou universitaire, le porte-échantillon Phenom Pharos STEM est un outil indispensable pour tous ceux qui cherchent à étendre leur champ d’application aux nanomatériaux et à la matière molle. Sa conception entièrement automatisée et conviviale en fait un outil facile à utiliser, ce qui vous permet de vous concentrer sur votre travail.
✓ Polyvalence d’application
Le système FEG de table offre désormais des capacités STEM pour tous, avec une imagerie entièrement automatisée pour les modes champ clair, champ sombre et HAADF.
✓ Facile à utiliser
Le détecteur d’imagerie STEM est intégré de manière claire dans l’interface utilisateur du MEB, tout en conservant le même niveau de facilité d’utilisation. Toutes les fonctions automatiques restent accessibles et la capture d’une image est aussi simple que de cliquer sur un bouton de la souris. Il est donc facile d’utiliser le détecteur d’imagerie STEM et d’obtenir les images dont vous avez besoin.
✓ Imagerie haute résolution
Les modes de transmission permettent d’obtenir des résolutions plus fines que celles possibles avec le détecteur d’électrons secondaires (SED).
✓ Flux de travail rapide
Avec ce porte-échantillon, il est possible de réaliser une véritable imagerie STEM ; il est possible d’obtenir des images en champ clair (BF), en champ sombre (DF) et en champ sombre annulaire à angle élevé (HAADF).
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Vous souhaitez en savoir plus sur le MEB de table Phenom ou le voir en action ? Nous nous ferons un plaisir d’organiser une démonstration adaptée à votre application et vos échantillons. Contactez-nous pour discuter des solutions que notre gamme de MEB de table peut apporter à votre laboratoire.