LiteScope Phenom

LiteScope Phenom kombiniert das bewährte Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop-REM mit der korrelativen In-situ-Leistungsfähigkeit des NenoVision LiteScope AFM-in-REM. Das Ergebnis ist eine praktische All-in-One-Lösung für die schnelle Materialbildgebung und -analyse, die echte 3D-Oberflächeninformationen sowie eine lokale Kartierung von Materialeigenschaften ermöglicht, ohne die Probe zwischen verschiedenen Geräten bewegen zu müssen.

Damit wird die korrelative AFM-in-REM-Charakterisierung auf einer zugänglichen Desktop-Plattform realisiert, ohne die Kosten und den Platzbedarf eines separaten High-End-REMs und eines eigenständigen AFMs.

  • Großer Verfahrweg bis zu 100 mm × 100 mm
  • Durchschnittliche Zeit bis zum REM-Bild: nur 60 Sekunden
  • In-situ-AFM direkt in der REM-Kammer
  • Korrelative AFM- und REM-Analyse in einem einzigen Workflow

Kombinieren Sie das Thermo Phenom XL Desktop-REM mit echter korrelativer 3D-Charakterisierung von NenoVision

Das Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop-REM bildet die Grundlage für eine schnellere und effizientere Qualitätskontrolle sowie Fehleranalyse. Dank eines Verfahrwegs von 100 mm × 100 mm können auch große oder mehrere Proben effizient untersucht werden. Die Automatisierung routinemäßiger Analyseaufgaben liefert präzise und reproduzierbare Ergebnisse bei einer durchschnittlichen Bildaufnahmezeit von nur 60 Sekunden.

Das LiteScope AFM-in-REM erweitert diesen Workflow durch die gleichzeitige Erfassung von AFM- und REM-Daten und ermöglicht so die nahtlose Korrelation komplementärer Datensätze am selben Ort, zur selben Zeit und unter identischen Bedingungen.

Entdecken Sie hier unsere SEM-Lösungen.

Warum LiteScope Phenom?

  • Analysieren Sie große oder mehrere Proben effizient dank eines Bühnenverfahrwegs von 100 mm × 100 mm
  • Automatisieren Sie die routinemäßige REM-Bildgebung und -Analyse und ergänzen Sie diese durch korrelative AFM-Topografie- und Rauheitsdaten
  • Erfassen Sie REM- und AFM-Daten in situ, um transferbedingte Kontamination, Oxidation und Drift zu reduzieren
  • Nutzen Sie die REM-Navigation zur präzisen Positionierung der AFM-Sonde in der interessierenden Region
  • Erweitern Sie die 2D-REM-Bildgebung durch die lokale Kartierung mechanischer, elektrischer und funktioneller Materialeigenschaften
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Anwendungen

Metalle und Legierungen

Ideal für Metallografie, Beschichtungsanalyse, Verschleißstudien und Fehleranalyse. LiteScope Phenom kombiniert schnelles REM-Screening mit AFM-basierter Topografie, Rauheit und lokalem mechanischem Kontrast an kritischen Oberflächenmerkmalen.

Partikel und Pulver

Für Partikel und Pulver bietet LiteScope Phenom einen schnellen Weg von der REM-Übersichtsbildgebung zur nanoskaligen Oberflächencharakterisierung. Es unterstützt Morphologie-, Agglomerations-, Oberflächentextur- und Höhenanalysen innerhalb derselben interessierenden Region.

Batteriematerialien

Battery-Workflows profitieren von der Korrelation der Partikelstruktur mit nanoskaligen Oberflächen- und Funktionsinformationen in einer einzigen Umgebung. LiteScope Phenom unterstützt die Analyse von Kathoden, Anoden, Beschichtungen und Degradationsmechanismen bei reduziertem Probenhandling.

Korrelieren Sie den mikrostrukturellen REM-Kontrast mit AFM-Topografie und -Rauheit an Einschlüssen, Rissen, Beschichtungen und Verschleißspuren.
Screenen Sie Partikelpopulationen schnell mit REM und zoomen Sie mit In-situ-AFM auf nanoskalige Textur- und Höhendetails.
Kombinieren Sie schnelle REM-Bildgebung mit AFM-Topografie und lokaler funktioneller Charakterisierung für Batteriepartikel, Beschichtungen und Grenzflächen.

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