LiteScope Phenom

Le LiteScope Phenom associe le MEB de table Thermo Scientific Phenom XL G3, reconnu pour sa fiabilité, à la puissance du LiteScope de NenoVision pour une imagerie correlative in situ de AFM dans MEB (AFM-in-SEM). Le résultat est une solution tout-en-un pratique pour l’imagerie et l’analyse rapides des matériaux, avec de véritables informations de surface en 3D et une cartographie locale des propriétés des matériaux.

Sans déplacer l’échantillon d’un instrument à l’autre. Cette solution rend la caractérisation corrélative AFM-in-SEM accessible sur une plateforme de table, sans le coût ni l’encombrement d’un MEB haut de gamme et d’un AFM indépendants l’un de l’autre.

  • Grande platine d’échantillon jusqu’à 100 mm × 100 mm
  • Temps moyen pour obtenir une image MEB : 60 secondes
  • AFM in situ dans la chambre MEB
  • AFM + MEB corrélatifs dans un seul flux de travail

Combinez le MEB de table Thermo Phenom XL avec la véritable vision corrélative 3D de NenoVision

Le MEB de table Thermo Scientific Phenom XL G3 pose les bases d’un contrôle qualité et d’une analyse des défauts plus rapides et plus efficaces. Sa grande platine accueille des échantillons jusqu’à 100 mm × 100 mm, tandis que l’automatisation des tâches analytiques de routine fournit des résultats précis et reproductibles avec un temps moyen d’obtention d’image de 60 secondes.

LiteScope AFM-in-SEM étend ce flux de travail grâce à l’acquisition simultanée AFM et MEB, permettant une corrélation fluide de jeux de données complémentaires de la même région d’intérêt, au même moment et dans les mêmes conditions.

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Pourquoi LiteScope Phenom ?

  • Analysez efficacement des échantillons plus grands ou multiples grâce à une platine pouvant accueillir des échantillons jusqu’à 100 mm × 100 mm.
  • Automatisez l’imagerie et l’analyse MEB de routine tout en ajoutant des données corrélatives de topographie et de rugosité AFM.
  • Obtenez des données MEB et AFM in situ afin de réduire la contamination, l’oxydation et la dérive liées au transfert.
  • Utilisez la navigation MEB pour positionner précisément la sonde AFM sur la région d’intérêt.
  • Complétez l’imagerie MEB 2D par une cartographie locale des propriétés mécaniques, électriques et fonctionnelles.
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Applications

Métaux et alliages

Idéal pour la métallographie, l’analyse des revêtements, les études d’usure et l’analyse des défaillances. LiteScope Phenom combine un screening MEB rapide avec une topographie AFM, une mesure de rugosité et un contraste mécanique local sur les caractéristiques critiques de surface.

Particules et poudres

Pour les particules et les poudres, LiteScope Phenom offre un passage rapide de l’imagerie d’ensemble MEB à la caractérisation de surface à l’échelle nanométrique. Il prend en charge l’analyse de la morphologie, de l’agglomération, de la texture de surface et de la hauteur dans la même région d’intérêt.

Matériaux de batteries

Les flux de travail liés aux batteries bénéficient de la corrélation entre la structure des particules et les informations de surface et fonctionnelles à l’échelle nanométrique dans un seul environnement. LiteScope Phenom prend en charge l’analyse des cathodes, anodes, revêtements et mécanismes de dégradation avec moins de manipulation d’échantillons.

Corrélez le contraste microstructural MEB avec la topographie et la rugosité AFM sur les inclusions, fissures, revêtements et traces d’usure.
Criblez rapidement des populations de particules avec leMEB et zoomez sur la texture nanométrique et les détails de hauteur avec l’AFM in situ.
Combinez l’imagerie MEB rapide avec la topographie AFM et la caractérisation fonctionnelle locale pour les particules, revêtements et interfaces de batteries.

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