Le microscope électronique à balayage de table Phenom XL G2 repousse les limites des MEB de table en offrant des possibilités d’automatisation sans précédent. En combinant sa facilité d’utilisation avec la possiblité d’une productivié d’analye accrue grâce à son temps de chargement court (<45sec) et à sa grande taille de chambre (100×100 mm), on obtient un outil idéal et performant pour l’analyse d’échantillons très variés avec une productivité accrue.
L’interface intuitive et moderne offre une accessibilité simple et attrayante pour tous les opérateurs, experts ou novice dans la microscopie électronique. La source d’électrons unique en son genre, l’hexaborure de cérium (CeB6), a une longue durée de vie et nécessite moins d’entretien qu’une source tungstène. Le faible encombrement du microscope permet une installation dans un espace réduit du laboratoire, ce qui vous permet de placer le Phenom exactement là où vous en avez besoin.
Chambre échantillon 100×100 mm
La plus grande capacité de chargement de tous les MEB de table du marché
Zone de scanning
Débattement de platine de 100×100 mm qui permet d’analyser l’intégralité de la chambre MEB
Automatisation
Effectuez facilement et automatiquement des analyses fastidieuses et répétitives
Compatibilité environnementale
Placez dans un environnement standard ou dans une boite à gant sous atmosphère Argon
Le MEB de bureau Phenom XL G2 est doté de la plus grande chambre échantillon de tous les MEB de table. Il offre également des solutions intuitives et automatisées qui éliminent les tâches manuelles répétitives. La grande chambre peut être associée à des solutions innovantes telles que la réalisation de mouvements eucentriques motorisés de l’échantillon ou la réalisation d’essais de traction in situ. Sa compatibilité avec les salles sèches et l’atmosphère Argon permet de placer le MEB dans des environnements inertes afin de protéger les échantillons sensibles.
La conception innovante du Phenom XL offre un panel d’avantages par rapport aux autres MEB de table :
✓ Cycle de chargement/ejection le plus rapide pour une productivité accrue
✓ Seulement 45 secondes d’attente entre le chargement de l’échantillon et l’imagerie MEB
✓ Caméra optique couleur pour une navigation en un seul clic
✓ Le mode vide partiel pour l’analyse des échantillons non conducteurs sans obligation de métallisation
✓ Analyse élémentaire entièrement intégrée avec l’option détecteur EDS
✓ Amélioration vers l’analyse élémentaire entièrement intégrée via l’ajout d’un détecteur EDS
✓ Détecteur d’électrons secondaires (SED) en option
✓ Faible encombrement, aucune infrastructure particulière n’est nécessaire
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