LiteScope AFM-in-SEM

Disponible uniquement en Belgique, aux Pays-Bas et au Luxembourg

Le LiteScope, microscope à force atomique de Nenovision, est conçu pour fusionner les forces des techniques AFM et SEM, ce qui permet un flux de travail efficace et étend les possibilités de microscopie corrélative et d’analyse in-situ qui sont difficiles ou presque impossibles à réaliser avec des instruments conventionnels.

  • Analyse multimodale et corrélative in situ
  • Flux de travail optimisé et rapide
  • Performance ultime à l’intérieur du MEB
  • Conception hardware ouverte pour une personnalisation facile

Intégration de LiteScope dans le MEB

Le LiteScope est conçu pour une intégration rapide et facile dans les microscopes électroniques de différents fabricants en mode “Plug & Play”. Nous fournissons des adaptateurs appropriés et des passages qui peuvent être personnalisés selon les besoins du client.

L’installation est très simple et peut être faite facilement par n’importe quel utilisateur de MEB. Tout d’abord, le LiteScope est fixé par quatre vis à la plate-forme de montage, montée sur le plateau d’échantillonnage du MEB. Les lignes électriques sont branchées dans la traversée préparée pour le vide. Au total, l’ensemble du processus de montage et de démontage éventuel de l’appareil ne prend que quelques minutes.

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Les avantages de la solution AFM-in-SEM

Analyse d’échantillons complexes et corrélatifs

La technologie CPEM de pointe permet l’acquisition simultanée de données AFM et SEM et leur corrélation transparente.

Caractérisation in situ de l’échantillon

Les conditions in situ à l’intérieur du MEB garantissent l’analyse de l’échantillon au même moment, au même endroit et dans les mêmes conditions.

Localisation précise de la région d’intérêt

L’approche extrêmement précise et économe en temps utilise le MEB pour diriger la pointe de l’AFM vers la région d’intérêt, ce qui permet de la localiser rapidement et sans problème.

Caractérisation complexe in situ

L’AFM apporte une nouvelle méthode de caractérisation à l’intérieur du MEB, permettant l’analyse d’une large gamme de propriétés :

Propriétés mécaniques des matériaux

  • topographie
  • propriétés élastiques locales (mode tapping et mode contact)
  • dureté locale de l’échantillon (non-topographique)
  • caractérisation des matériaux en fonction de la profondeur
  • diverses opérations in situ

Propriétés magnétiques des matériaux

  • imagerie du domaine magnétique

Propriétés électromécaniques des matériaux

  • imagerie du domaine piézoélectrique

Propriétés électriques des matériaux

  • carte de conductivité (y compris les zones isolées)
  • potentiel de surface local
  • propriétés électriques locales (non topographiques)
  • topographie sub-nanométrique

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