Nur verfügbar in Belgien, den Niederlanden und Luxemburg
Das einzigartige Nenovision Rasterkraftmikroskop LiteScope wurde entwickelt, die Stärken von AFM- und REM-Techniken zu vereinen. Dieses Konzept sorgt für einen effektiven Arbeitsablauf und erweitert die Möglichkeiten der korrelativen Mikroskopie und In-situ-Analyse, was mit herkömmlichen Instrumenten schwierig oder fast unmöglich ist.
LiteScope ist für die schnelle und einfache Integration in REMs verschiedener Hersteller im “Plug & Play”-Modus konzipiert. Wir stellen entsprechende Adapter und Durchführungen zur Verfügung, die an die Kundenanforderungen angepasst werden können.
Die Installation ist sehr einfach und kann von jedem REM-Nutzer leicht durchgeführt werden. Zunächst wird das LiteScope mit vier Schrauben an der Adaptionsplatte befestigt, die auf dem REM-Probentisch montiert ist. Die elektrischen Kabel werden anschließend in die vorbereitete Vakuumdurchführung eingesteckt. Insgesamt dauert der gesamte Prozess der Montage und eventuellen Demontage des Geräts nur wenige Minuten.
Das LiteScope ist über seine Steuereinheit mit demselben PC verbunden, der auch für die Steuerung des REM verwendet wird. Dieser kompakte Aufbau ermöglicht es, die korrelativen AFM-in-REM-Messungen an einem Gerät mit Hilfe der NenoView-Software durchzuführen.
Modernste CPEM-Technologie ermöglicht die gleichzeitige Erfassung von AFM- und REM-Daten und deren nahtlose Korrelation.
In-situ-Bedingungen im REM gewährleisten die Probenanalyse zur gleichen Zeit, am gleichen Ort und unter den gleichen Bedingungen.
Die äußerst präzise und zeitsparende Annäherung nutzt das REM, um die AFM-Spitze zum Bereich von Interesse zu navigieren.
AFM bietet eine neue “”inside-to-SEM”” Methode zur Charakterisierung, mit der eine Vielzahl von Eigenschaften analysiert werden kann:
