Le MEB de table Phenom Pharos utilise un canon à effet de champ (FEG) comme source d’électrons, particulièrement adapté pour les applications qui exigent la plus haute résolution.
Bénéficiant d’une large plage de tension d’accélération de 1 à 20 kV, le Pharos est capable d’accueillir une large variété d’échantillons isolants et sensibles au faisceau grâce à sa capacité d’imagerie à faible kV.
Cette capacité renforcée par la possibilité d’utiliser un porte-échantillon à contrôle de température.
Recommandé pour : les responsables de laboratoire et le personnel de recherche très occupés qui ont besoin d’un véritable MEB accessible sans préparation préalable.
Pourquoi choisir ce MEB ?
- Analysez les nanoparticules, les imperfections des revêtements et diverses autres caractéristiques nanométriques que les autres microscopes électroniques à balayage (MEB) de bureau ou à filament de tungstène ne pourraient pas détecter.
- Utilisez efficacement ce système prêt à l’emploi sur votre bureau après moins d’une heure de formation.
- Obtenez des images à haute résolution et de haute qualité de nombreux matériaux, y compris les polymères, à des tensions d’accélération allant jusqu’à 1 kV.
- Analysez les échantillons sensibles au faisceau avec un minimum de dommages.
Imagerie très haute résolution
L’utilisation d’une source FEG apporte des performances d’imagerie inégalées sur le marché des MEB de table
Imagerie à faible kV
Capacité d’utiliser une tension d’accélération minimale de 1 kV pour les échantillons isolants et sensibles au faisceau
Interface intuitive
L’utilisation MEB FEG n’a jamais été aussi facile que sur le Pharos grâce à une interface utilisateur claire, intuitive et simplifiée grâce à ses fonctions automatiques
Aucune infrastructure nécessaire
Table, paillasse ou bureau, l’installation ne nécessite qu’une table robuste et une simple prise de courant.
Le MEB de table Phenom Pharos G2 est le premier microscope électronique à balayage de table (MEB de table) à effet de champ de Thermo Fisher Scientific.
Conçu pour être le système FEG le plus accessible et le moins encombrant du marché, il est également capable de fournir les images les plus résolues sur le marché des MEB de table. L’architecture de base du Pharos est la même que celle qui a fait le succès de la gamme des MEB de table Phenom qui sont aujourd’hui les plus vendus au monde : détecteur d’électrons secondaires (SED) et spectromètre à dispersion d’énergie (EDS) en option, mode vide partiel, suite logiciels pour l’analyse d’images, etc.
Le couplage des caractéristiques principales des MEB de table Phenom avec l’imagerie à faible kV, et la technologie FEG du Pharos, repousse les limites de la microscopie électronique en permettant la caractérisation détaillée d’échantillons à l’echelle nanométrique et/ou sensibles à l’état brut.
La conception innovante du Phenom XL offre un panel d’avantages par rapport aux autres MEB de table :
✓ Source effet de champ Schottky (FEG-SEM)
✓ Plage de tension d’accélération de 1 à 20 kV
✓ Grossissement maximal du MEB 2 000 000x
✓ Caméra optique couleur pour une navigation en un seul clic
✓ Détecteur EDS entièrement intégré pour la composition élémentaire en option
✓ Détecteur SED en option pour les analyses topographiques
✓ Aucune infrastructure n’est nécessaire pour l’installation
Comparez Phenom Pharos à d’autres solutions MEB
Découvrez les principales caractéristiques de nos solutions SEM de bureau, notamment leur résolution, leurs détecteurs et leurs capacités d’analyse. Cliquez sur chaque instrument pour voir ses caractéristiques spécifiques et trouver le système qui répond à vos besoins.
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