Phenom Pharos G2 : le MEB de table avec une résolution FEG à la portée de tous les laboratoires

Phenom Pharos G2 : le MEB de table avec une résolution FEG à la portée de tous les laboratoires

Depuis le développement des premiers MEB de table Phenom au cours de la période 2006-2007, la technologie a connu une évolution considérable. Il y a environ deux ans, Thermo Scientific, l’actuel propriétaire de la gamme de systèmes Phenom, a lancé la sixième génération d’instruments Phenom ProX G6.

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La démocratisation de la technologie MEB

Avec l’essor de la technologie MEB de table, la microscopie électronique est devenue une technique d’analyse d’image et d’analyse accessible à des milliers de laboratoires dans le monde entier. Cette percée spectaculaire est due non seulement au budget d’investissement abordable et au faible coût de maintenance, mais surtout à la conception « de paillasse » (c’est-à-dire le besoin limité d’infrastructures spécialisées en termes d’espace de laboratoire, de réduction des vibrations, de contrôle de la température et de la pression ambiantes…) et à l’interface utilisateur intuitive (qui permet à un grand nombre d’opérateurs non spécialisés d’utiliser la technologie). « La démocratisation de la technologie MEB », comme l’a dit un orateur lors d’un récent congrès.

L’intégration de la technologie MEB-FEG dans un MEB de table a constitué une nouvelle étape dans le développement des MEB de table. Le MEB-FEG (Microscope Electronique à Balayage – Field Emission Gun) offre la plus haute résolution d’imagerie par rapport au MEB plus couramment utilisés (Tungstène). Il garantit une grande luminosité, des images extrêmement nettes et une intensité de faisceau stable.

En général, les MEB-FEG sont des systèmes dits conventionnels : ils nécessitent une grande surface d’installation au sol, mais cette même technologie haute résolution est désormais disponible dans une version de “paillasse” grâce au Phenom Pharos Thermo Scientific.

Thermo-Fisher-Phenom_Pharos

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Très haute résolution

Alumina coating

Alumina coating

La source FEG offre la résolution la plus élevée, avec une haute luminosité, des images nettes et une intensité de faisceau stable.

Le Thermo Scientific Phenom Pharos G2 offre une résolution ≤2nm (@20kV SE). Cela permet de voir la forme des nanoparticules, les imperfections des revêtements et d’autres caractéristiques qui échapperaient à d’autres MEB, y compris ceux dotés d’une source traditionnelle au tungstène.

Désormais dans un instrument de table

Les MEB à émission de champ sont généralement des systèmes de grandes dimensions qui nécessitent une salle spécifique dotée d’une infrastructure et de connexions spéciales. Ils sont souvent difficiles à utiliser et nécessitent des utilisateurs hautement qualifiés. C’est pourquoi les travaux de MEB-FEG sont souvent confiés à des laboratoires de service ou à des installations centrales.

Cependant, disposer d’un MEB-FEG en interne est désormais une option beaucoup plus envisageable. Le MEB-FEG de table Phenom Pharos G2 est le seul MEB de table équipé d’une source FEG. Il est facile à installer et à utiliser, et vous n’avez donc plus besoin de faire appel à des services externes.

Le Phenom Pharos possède toutes les capacités d’un MEB-FEG conventionnel, incorporées dans un modèle de table. Il surpasse souvent les systèmes conventionnels en termes de qualité d’image, avec une expérience utilisateur nettement simplifiée.

Alors que quelques MEB peuvent avoir certaines limites, le Phenom Pharos G2 réalise l’imagerie et l’analyse si rapidement que, dans de nombreux établissements, il est utilisé comme un outil du quotidien.

Thermo Fisher Phenom Pharos G2

Phenom Pharos G2

Pratique et facile à utiliser

Bacteria sample

Bacteria sample

Grâce à son faible encombrement, le Phenom Pharos G2 ne requiert pas beaucoup d’espace et peut donc être facilement installé sur une paillasse ou un bureau de votre laboratoire. Vous pouvez ainsi accéder aux résultats beaucoup plus facilement qu’avec un modèle conventionnel installé dans un autre local.

Il est fiable, avec des pièces robustes et un onduleur intégré pour prévenir les incidents liés aux coupures de courant. Les pointes d’émission de champ coûtent plus cher, mais elles ont une plus longue durée de vie. Elles durent habituellement bien plus qu’une année, ce qui réduit les immobilisations pour son remplacement.

Le Pharos est intuitif, facile à utiliser et hautement productif, dès la première utilisation. Dès qu’un échantillon est chargé, une image optique est immédiatement disponible pour aider la navigation. Après avoir sélectionné le mode MEB, une image comportant une infinité de détails apparaît en 30 secondes. Il est alors facile de zoomer et de naviguer au sein de l’échantillon.

Pour des applications exigeantes

Alors que les microscopes optiques et les MEB tungstène peuvent fournir une imagerie haute résolution, certaines applications nécessitent la résolution plus élevée d’un MEB-FEG, par exemple :

  • Morphologie des nanoparticules
  • Petits défauts dans les couches minces
  • Matériaux isolants
  • Matériaux sensibles aux faisceaux d’électrons à haute tension

Un MEB à émission de champ génère un faisceau stable et à haute luminosité pour ces matériaux exigeants.

Carbon nano tubes

Carbon nano tubes

Échantillons sensibles

Foam structure

Foam structure

Grâce aux performances élevées de la source FEG aux tensions d’accélération les plus faibles en comparaison à d’autres technologies de sources MEB, il est possible d’étudier des matériaux isolants et sensibles au faisceau sans préparation préalable. Les échantillons ne sont pas endommagés par le faisceau et les caractéristiques à l’échelle nanométrique sont clairement visibles.

Cette plus large gamme d’énergie disponible vous permet d’obtenir des images d’échantillons sensibles au faisceau, tels que :

  • Les zéolithes – utilisées dans la purification de l’eau, les poudres pharmaceutiques et de nombreux médicaments courants à base de comprimés et de gélules.
  • Fibres polymères – dans des matériaux tels que le nylon, le polyester, l’élasthanne et le kevlar.

L’imagerie à faible kV est essentielle pour étudier ces types de matériaux, car les électrons à plus haute énergie endommagent leur structure.

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