Hoe kunnen we u helpen?
Ben je bezig met foutenanalyse? Wij kunnen je helpen met de juiste oplossing voor jouw toepassing
Foutenanalyse
Foutenanalyse
Foutenanalyse of defectenanalyse is een term die een zeer breed scala aan onderzoeksonderwerpen dekt. In de levenscyclus van een materiaal kan defectenanalyse voorkomen bij ingangscontrole van grondstoffen, bij problemen tijdens ontwikkeling en productie en bij klachtenonderzoek naar defecte eindproducten.
Voor foutenanalyse kan een elektronenmicroscoop zeer nuttig zijn omdat beeldvorming vaak een directe oorzaak kan identificeren.
Daarnaast kan een SEM worden uitgerust met een aantal opties waarmee een specifieke eigenschap van een materiaal kan worden onderzocht in combinatie met beeldvorming en spectroscopische EDX-analyse.
Deze omvatten een eucentrische monsterhouder waarmee een monster vanuit verschillende posities kan worden onderzocht, een temperatuurgestuurde monsterhouder waarmee de invloed van temperatuur kan worden vastgelegd via beeldvorming, een elektrische doorvoerhouder waarmee elektrische sondes kunnen worden aangesloten op het monster voor in-situ metingen, of een miniatuur trekbank waarmee trekproeven kunnen worden uitgevoerd in de SEM.
Deze hardwareopties worden aangevuld met specifieke software zoals een 3D-beeldanalysepakket waaruit ruwheidsgegevens kunnen worden verkregen, of software voor de bepaling van vezel-, poriën- of deeltjesgrootteverdelingen.
