Analyse des défauts

L’analyse des défauts est un terme qui couvre un très large éventail de sujets de recherche. Au cours du cycle de vie d’un matériau, l’analyse des défauts peut intervenir dans le contrôle des matières premières, dans les problèmes rencontrés au cours du développement et de la production, et dans les enquêtes sur les réclamations concernant des produits finis défectueux.

Pour l’analyse des défauts, un microscope électronique peut être très utile car l’imagerie permet souvent d’identifier une cause directe.

De plus, un MEB peut être équipé d’un certain nombre d’options qui permettent d’examiner une propriété spécifique d’un matériau en combinaison avec l’imagerie et l’analyse spectroscopique EDX.

Il s’agit notamment d’un porte-échantillon excentrique qui permet d’examiner un échantillon dans différentes positions, d’un porte-échantillon à température contrôlée qui permet de saisir l’influence de la température par imagerie, d’un porte-échantillon à passage électrique qui permet de connecter des sondes électriques à l’échantillon pour des mesures in situ, ou d’un banc d’essai de traction miniature qui permet d’effectuer des essais de traction dans le MEB.

Ces options matérielles sont complétées par des logiciels spécifiques tels qu’un logiciel d’analyse d’images 3D permettant d’obtenir des données de rugosité, ou un logiciel permettant de déterminer la distribution des tailles des fibres, des pores ou des particules.

Produits pour analyse des défauts