Fehleranalyse

Fehleranalyse ist ein Begriff, der ein sehr breites Spektrum an Forschungsthemen umfasst. Im Lebenszyklus eines Materials kann die Fehleranalyse bei der Eingangskontrolle von Rohstoffen, bei Problemen während der Entwicklung und Produktion und bei Reklamationsuntersuchungen von fehlerhaften Fertigprodukten auftreten.

Bei der Fehleranalyse kann ein Elektronenmikroskop sehr nützlich sein, da durch die Bildgebung oft eine direkte Ursache ermittelt werden kann.

Darüber hinaus kann ein REM mit einer Reihe von Optionen ausgestattet werden, die es ermöglichen, eine bestimmte Eigenschaft eines Materials in Verbindung mit der Bildgebung und der spektroskopischen EDX-Analyse zu untersuchen.

Dazu gehören ein euzentrischer Probenhalter, mit dem eine Probe aus verschiedenen Positionen untersucht werden kann, ein temperaturgesteuerter Probenhalter, mit dem der Einfluss der Temperatur über die Bildgebung erfasst werden kann, ein elektrischer Durchgangshalter, mit dem elektrische Sonden für In-situ-Messungen an die Probe angeschlossen werden können, oder ein Miniatur-Zugprüfstand, mit dem Zugprüfungen im REM durchgeführt werden können.

Diese Hardwareoptionen werden durch spezifische Software ergänzt, wie z. B. ein 3D-Bildanalysepaket, mit dem Rauheitsdaten gewonnen werden können, oder Software zur Bestimmung von Faser-, Poren- oder Partikelgrößenverteilungen.

Produkte für die Fehleranalyse