Une bonne imagerie, une bonne mesure et une bonne analyse commencent par une bonne préparation des échantillons. Que vous travailliez avec des matières premières, des échantillons biologiques ou des composants industriels, une préparation d’échantillons de haute qualité est essentielle pour une analyse significative en MEB (SEM) et MET (TEM). De la métallisation par pulvérisation cathodique au fraisage ionique en passant par la cryo-section, les bons outils rendent votre flux de travail plus cohérent, plus efficace et plus reproductible.
Dans cet aperçu, nous vous présentons une sélection d’instruments et de technologies disponibles auprès de votre partenaire commercial local xxx, conçus pour vous aider à tirer le meilleur parti de votre microscope électronique — chacun avec des avantages clairs et un rôle éprouvé au laboratoire.
Dans un microscope électronique, les échantillons sont placés dans une chambre sous vide et bombardés par un faisceau d’électrons. Par conséquent, les échantillons non conducteurs ou faiblement conducteurs se chargent électriquement, entraînant des contrastes anormaux et des images “surexposées”.
Cet effet peut être évité en appliquant une fine couche de matériau conducteur (généralement de l’or, du platine ou du carbone) à la surface de l’échantillon. Les méthodes les plus courantes sont l’évaporation thermique pour le carbone et la pulvérisation plasma pour l’or et le platine. Ces techniques sont communément appelées métallisation SEM.
Les fraiseuses ioniques et nettoyeurs plasma de Fischione sont utilisés dans plus de 500 laboratoires de recherche à travers le monde pour relever les défis quotidiens de la microscopie électronique et de la nanotechnologie.
- Modèle 1051: fraiseuse ionique haut de gamme pour la préparation d’échantillons MET avec zones larges transparentes aux électrons.
- Modèles 1061 SEM Mill et 1062 TrionMill : utilisés pour générer des surfaces adaptées à l’imagerie SEM. Le 1061 utilise deux sources d’ions TrueFocus indépendantes, le TrionMill en utilise trois pour le fraisage et le polissage de grandes surfaces (jusqu’à 50 mm).
- NanoClean 1070: nettoyeur plasma qui élimine rapidement les contaminants organiques (hydrocarbures) sur les échantillons et les porte-échantillons.
Le Nebula™ Particle Dispenser (Thermo Scientific™) permet une méthode standardisée de dispersion uniforme de poudres sèches sur plots SEM. Il forme une monocouche sans amas, tout en préservant la structure des particules fragiles.
TechnoOrg Linda développe des instruments à technologie ionique pour la préparation d’échantillons et le profilage en profondeur pour MET et SEM.
- UniMill: système automatisé de thinning par faisceau ionique pour échantillons TEM/XTEM. Plage d’énergie de 100 eV à 16 keV.
- GentleMill: station de finition et polissage final pour échantillons TEM/FIB de très haute qualité.
- SEMPREP 2 : système nouvelle génération de coupe en pente et polissage sans dommage pour utilisateurs SEM/EBSD. Porte-échantillons inclinés uniques (30°, 45°, 90°).
RMC Boeckeler développe des solutions de préparation d’échantillons pour la recherche à l’échelle nanométrique. Ses (cryo)microtomes et (cryo)ultramicrotomes sont utilisés en science des matériaux et biologie cellulaire, en particulier pour la microscopie électronique 3D.
