Les SEM Discovery Days 2025 se sont achevés après une série d’événements inspirants en Allemagne, en Autriche et en Belgique, offrant les dernières avancées en microscopie électronique à balayage (MEB) directement aux chercheurs, ingénieurs et spécialistes des matériaux.
Le concept de cette année s’appuie sur le succès de la Phenom SEM Tour 2024 – combinant démonstrations en direct, analyses d’échantillons réels et conférences d’experts dans un format compact et pratique.
Cet événement a réuni des responsables qualité, des professionnels de laboratoire, des ingénieurs et des décideurs partageant un objectif commun : explorer comment une microscopie rapide et fiable peut améliorer leur travail quotidien.
Les participants ont eu l’occasion de manipuler directement les MEB de paillasse Phenom XL G2 et Phenom ProX G6 de Thermo Fisher Scientific, et de constater comment l’analyse EDS intégrée permet une identification rapide et précise des matériaux.
De la détection de l’amiante à l’analyse de la taille des particules, en passant par l’inspection de la surface des wafers, les visiteurs ont vu comment le MEB peut répondre à des problématiques concrètes.
L’un des aspects uniques de l’événement était la possibilité d’apporter et d’analyser des échantillons réels sur place, avec l’assistance directe de spécialistes d’application. Cette approche personnalisée a permis à chaque participant de repartir avec des connaissances applicables à son propre travail.
Les SEM Discovery Days ne seraient pas complets sans les innovations qui soutiennent une imagerie et une préparation MEB de haute qualité :
Ces technologies complémentaires ont démontré comment l’efficacité, la précision et la netteté des images peuvent être optimisées grâce aux bons outils de préparation.
Nous remercions tous nos partenaires, intervenants et participants pour le succès de cette édition et nous nous réjouissons déjà de la prochaine.
N’hésitez pas à nous contacter pour plus d’informations.