Électronique
Vous trouverez ici une vue d’ensemble des différentes applications et méthodes d’essai que le MEB peut offrir pour la caractérisation des semi-conducteurs et des composants électroniques. Vous trouverez également les configurations les plus adaptées du MEB pour réaliser ces caractérisations.
Notes d'application
![Close-up,Amplifier,Equipment,With,Sliders,And,Knobs,At,Boutique,Recording](https://www.electron-microscopes.com/wp-content/uploads/2017/02/shutterstock_393664378.jpg)